EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。

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测量元素：从硫到铀等 75 种元素 元素含量分析范围：1ppm-99.99 RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限高达 1ppm 测量时间：60-300s 能量分辨率：165±5eV 管压：5-50 kV 管流：50-1000μA

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新款快速手持式X射线荧光分析仪 - X-MET7000 eXpress款X-MET7000 eXpress在检测痕量元素时表现出佳性能，同时保证分析速度不受影响。X-MET7000 eXpress 使用牛津仪器 40 kV 的X射线光管和高分辨率高计数率硅漂移探测器(SDD)。我们的新款手持式X射线荧光分析仪拥有以下

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三重射线保护（软件、硬件、迷宫设计），全面确保操作人员人身安全，避免意外操作带来的辐射伤害

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日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪日立（SEA1000AⅡ、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX，膜厚仪SFT-110、FT-110、SFT9300、SFT9355、SFT9455、SFT9500X、SFT9550X）SFT-110系列产品,搭载了高性能X射线管，实

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该荧光免疫层析分析仪是采用现代光电技术研发的一种用于荧光免疫层析检测卡定量分析的智能化仪器，是首个在食品安全领域对荧光免疫层析检测卡定量分析精密仪器。可检测食品安全领域大多数检测项目，包括瘦肉精、抗生素、非法添加物以及动物疾病检测等。适用于各种食品安

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分 析 范 围: 1PPM-99.99

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用于高分子荧光材料、发光粉及稀土掺杂粉末复合物的高温荧光测试，升温速率40℃/min.控温范围：室温--300℃；设定精度：0.1℃，控温精度0.2℃。可以用于日立全线荧光光谱仪，HJY全线荧光光谱仪。

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