S3500SI图像激光粒度分析仪----一台仪器,两种技术技术特点:一台仪器,具备两种分析技术,即采用静态激光衍射技术和图像分析技术同时测量样品。技术指标:测量范围:0.01-2800um (有多种测量范围可选择)图像测量范围:0.75-2000um
产品货号:S3500SI 产地:美国 价格:询价 点击数:4305 商家询价
美国Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析仪,原理上采用经典静态光散射技术和全程米氏理论处理,利用现代模块式设计理念,使用获得专利的三激光光源技术,配备超大角度双镜头检测系统,以对数方式排列151个高灵敏度检测单元,无需扫描,平行通道实时接受散射光信息,提
产品货号:DustMon F 产地:美国 价格:询价 点击数:2792 商家询价
Attension光学接触角测量仪器被广泛用于表界面研究的科研、开发和质量控制。可以帮助您轻松准确地表征您所需了解的表面情况,从而节省您宝贵的时间和经费。从领先的研究到快速精准的质量控制,Attension光学接触角测量仪系列产品使这些应用简单可行。系列产品的多功能性
产品货号:Theta 产地:芬兰 价格:询价 点击数:4373 商家询价
技术优势:1.自动清洁仪器--- Microtrac PRO系列利用压缩空气自清洁的机理确保测量光学区域保持无尘-减少了停机时间和操作人员的干扰;2.防爆需要—PRO系列被设计成耐用性使得PRO系列能在困难的环境中运行; 3.PRO系列确保样品量的精确提取
产品货号:PartAn SI PRO 产地:美国 价格:询价 点击数:2855 商家询价
EnvisionTEC的 Perfactory® 4 Standard Series 是一台低成本、易维护且用户友好的3D快速成型制造系统。利用从德州仪器®引进的直射光投影(DLP)技术,此系统能够在短的时间内制作出细致的模型。
产品货号:Perfactory® 4 Standard Ser 产地:德国 价格:询价 点击数:5012 商家询价
纳米粒度测量——新动态光背散射技术随着颗粒粒径的减小,例如分子级别的大小,颗粒对光的散射效率急剧降低,使得经典动态光散射技术的自相关检测(PCS)变得更加不确定。40多年 来,Microtrac公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。
产品货号:Nanotrac Wave 产地:美国 价格:询价 点击数:3429 商家询价
采用流动电流电位法计算Zeta电位,并采用先进的180°动态光散射技术测量纳米粒度的大小。可得到流动电位,Zeta电位,纳米粒度等参数以及实现PH,盐和聚电解质的滴定。得到不同PH值,盐浓度和聚电解质下的Zeta电位和纳米粒度的变化图。
产品货号:Stabino 产地:德国 价格:询价 点击数:3992 商家询价
calo2310 是瑞士systag 专门开发的用于反应体系量热的高准确度量热器,它拥有特殊研发的热流动量热以及热平衡量热方法,具有更高的准确度与重复性,是目前市场上高端的全自动反应量热器,可以应用在化学合成、高分子聚合、结晶、发酵研究等领域。
产品货号:Calo2310 产地:瑞士 价格:询价 点击数:5820 商家询价
Attension光学接触角测量仪器被广泛用于表界面研究的科研、开发和质量控制。可以帮助您轻松准确地表征您所需了解的表面情况,从而节省您宝贵的时间和经费。从领先的研究到快速精准的质量控制,Attension光学接触角测量仪系列产品使这些应用简单可行。系列产品的多功能性
产品货号:Theta Lite 产地:芬兰 价格:询价 点击数:2848 商家询价