纳米粒度测量——新动态光背散射技术随着颗粒粒径的减小,例如分子级别的大小,颗粒对光的散射效率急剧降低,使得经典动态光散射技术的自相关检测(PCS)变得更加不确定。40多年 来,Microtrac公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。
产品货号:Nanotrac Wave 产地:美国 价格:询价 点击数:3433 商家询价
美国Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析仪,原理上采用经典静态光散射技术和全程米氏理论处理,利用现代模块式设计理念,使用获得专利的三激光光源技术,配备超大角度双镜头检测系统,以对数方式排列151个高灵敏度检测单元,无需扫描,平行通道实时接受散射光信息,提
产品货号:DustMon F 产地:美国 价格:询价 点击数:2794 商家询价
技术参数:测量范围:90 - 13,200µm测量技术:单色CCD图像分析技术重复性:误差≤1.5%,分析精度:30通道扫描速度:60循环/10秒测量时间:1-9,999秒,用户可选直接干粉进样分析,样品可回收实时图像处理,操作直观方便报告形式:体积/数量粒度分布
产品货号:Millitrac 产地:美国 价格:询价 点击数:3388 商家询价
LabMaster/LabPartner 多通道水份活度测定系统及工作站,可通过连接多个LabPartner,同时测定多个样品, 内置珀尔贴(PETTIER)电子控温系统, 200 个样品测量池,6点标定标准品 (11/33/53/75//90/98) 校验。
产品货号:LabMaster/LabPartner 产地:瑞士 价格:询价 点击数:3195 商家询价
作为平行反应仪Flexy-LAB 的扩展,systag开发出全自动平行反应仪Flexy-Scale-Up,体积增大到3升,可与Flexy-LAB 配合进行2台、4台甚至6台反应釜的平行控制,每台反应釜的所有参数都是独立控制,可以提高试验的重复性,大大缩短研发时间。
产品货号:Flexy-scale-up 产地:瑞士 价格:询价 点击数:2319 商家询价
EnvisionTEC的 Perfactory® 4 Standard Series 是一台低成本、易维护且用户友好的3D快速成型制造系统。利用从德州仪器®引进的直射光投影(DLP)技术,此系统能够在短的时间内制作出细致的模型。
产品货号:Perfactory® 4 Standard Ser 产地:德国 价格:询价 点击数:5014 商家询价
采用流动电流电位法计算Zeta电位,并采用先进的180°动态光散射技术测量纳米粒度的大小。可得到流动电位,Zeta电位,纳米粒度等参数以及实现PH,盐和聚电解质的滴定。得到不同PH值,盐浓度和聚电解质下的Zeta电位和纳米粒度的变化图。
产品货号:Stabino 产地:德国 价格:询价 点击数:3995 商家询价
技术参数:﹡测量范围:0.01μm-2,800μm; 测量精度:0.6%; 测量时间:10-30 秒; 所需样品量:0.05-2g;兼容性:与任何常用有机溶剂兼容﹡光源: 三束3mW 780nm固体二极管激光器, 电脑控制自动校准; 准直功能:电脑控制自动对光;光路:固定光学平台
产品货号:S3500系列 产地:美国 价格:询价 点击数:3737 商家询价
BELSORP-Mini II 是一款采用容量法测定样品吸附特性的比表面和孔隙度分析仪,该仪器设计紧凑,分析精度高,操作简便,能够测定样品比表面积和孔径分布,配备三个样品测量通道,每一个通道都具有独立的压力传感器,能够同时测定三个样品。在分析站,仪器歧管系统和饱和蒸
产品货号:BELSORP-miniII 产地:日本 价格:询价 点击数:7980 商家询价
纳米粒度测量——新动态光背散射技术随着颗粒粒径的减小,例如分子级别的大小,颗粒对光的散射效率急剧降低,使得经典动态光散射技术的自相关检测(PCS)变得更加不确定。40多年来,Microtrac公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。
产品货号:Nanotrac wave 产地:美国 价格:询价 点击数:6209 商家询价